silicis elektronikoje
KVANTINĖS ELEKTRONIKOS DARINIAI AKYTOJO SILICIO
PAGRINDU
Prietaisai, pagaminti silicio pagrindu, vyrauja mikroelektronikos pramonės gaminių tarpe dėl
bazinės med.iagos pigumo. Todėl silicis yra labiausiai pageidaujama med.iaga gaminant bet
kokį naują elektronikos prietaisą, kuris turėtų integruotis su esamais mikroelektroniniais lustais
ar kita aparatūra. Tai galioja ir optoelektroniniams prietaisams, kurie sudaro jungiamąją grandį
tarp elektronikos, fotonikos ir optinio ry.io sričių. Dauguma optoelektronikos elementų, tokių
kaip .viesolaid.iai bei moduliatoriai, gali būti pagaminti i. silicio. Tačiau silicio
optoelektronikos idėjos įgyvendinimui trūksta pagrindinės grandies . efektyvaus .viesos .altinio
i. silicio (ar bent did.iąja dalimi silicio ppagrindu). Jeigu pavyktų sukurti silicio lazerį naudojant
įprastinę silicio technologiją, tai .is pasiekimas darytų mil.ini.ką įtaką puslaidininkių pramonės,
informacinių technologijų technikos bei telekomunikacijos sistemų ateičiai. Tačiau kristalinis
silicis dėl savo fundamentinių savybių, tokių kaip energetinių juostų struktūra, lemianti
netiesioginius rekombinacinius .uolius tarp laidumo juostos ir valentinės juostos ekstremumų, ir
kitų, yra neperspektyvi med.iaga gauti .viesos stiprinimą. Dėl vyraujančios tarpjuostinės
smūginės nepusiausvyrųjų krūvininkų rekombinacijos, spinduliuotės kvantinis na.umas
makroskopiniame ir mikroskopinių matmenų silicyje siekia vos .imtąsias procento dalis. Tačiau,
atradus 3-4 % kvantinio na.umo matomojo spektro spinduliuotę akytojo silicio nanokristalituose,
atsirado vviltis gauti jame ir priverstinę spinduliuotę. Praėjus de.imčiai metų po pirmųjų darbų [1,
2] pasirodymo, .i viltis i.sipildė. Optinį stiprinimą silicio nanokristaluose pirmas stebėjo
L. Pavesi ir jo bendraautoriai [3]. Bandymai buvo atlikti su silicio nanokristalais, gautais silicio
jonų implantacijos būdu safyro ir ssilicio oksido sluoksniuose. .is atradimas davė prad.ią silicio
lazerio kūrimo darbams.
Bet kurio lazerio pagrindą sudaro aktyvioji terpė, kuri patalpinta tarp optinio Fabry-Perót
rezonatoriaus veidrod.ių. Aktyvioji terpė su.adinama tam, kad joje būtų sukurta inversinė
lygmenų, o puslaidininkiniame lazeryje . energetinių juostų u.pildymo būsena. Fabry-Perót
rezonatorius u.tikrina optinį teigiamą grį.tamąjį ry.į. Puslaidininkinio lazerio Fabry-Perót
mikrorezonatorių paprastai kuria du paskirstyto (Braggo) atspind.io daugiasluoksniai veidrod.iai
[4]. Elektrocheminė akytojo silicio gamybos technologija suteikia galimybę pagaminti abu
minėtus lazerio elementus vieno nepertraukiamo technologinio proceso metu. Technologija
paremta tuo, kad akytojo silicio lū.io rodiklis .viesai ir silicio nanokristalitų matmenys priklauso
nuo anodinio ėsdinimo srovės tankio [5]. Iki .iol tirtų Fabry-Perót mikrorezonatorių aktyvioji
dalis buvo daroma λ/2 ilgio (čia λ . bangos ilgis, atitinkantis silicio nanokristalitų
spinduliuojamosios .viesos spektro centrinę dalį). Toks mikrorezonatorius yra suderintas pagal
banginės optikos reikalavimus. Tačiau jjame neatsi.velgta į tai, kad .viesos stiprinimas silicio
nanokristaluose yra santykinai ma.as [3]. Norint gauti lazerinį efektą, būtina atsi.velgti į .viesos
stiprinimo dydį ir į nuostolius. Įskaičius tai, kad .viesos stiprinimo skerspjūvis silicio
nanokristalituose yra 5×10-17 cm-2 eilės [3], mes pagaminome Fabry-Perót mikrorezonatorių,
kuriame atstumas tarp Braggo veidrod.ių yra didesnis u. λ/2 [6*,7*].